當(dāng)覆蓋層和基體其中有一種是磁性金屬時(shí)，就可以用本方法測(cè)厚。目前國(guó)內(nèi)生產(chǎn)的磁性測(cè)厚儀僅限于測(cè)量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度。

本方法測(cè)量誤差通常為10%，但對(duì)較薄鍍層誤差不會(huì)小于1.5μm。它是目前應(yīng)用廣泛的一種無(wú)損測(cè)量方法。

1、測(cè)量?jī)x器

測(cè)量時(shí)，允許選用精度±10%的不同結(jié)構(gòu)的磁性測(cè)厚儀。

（實(shí)際目前進(jìn)口磁性測(cè)厚儀精度在1%~2%，國(guó)產(chǎn)在2%~5%，南北潮注）

2、測(cè)量程序及注意事項(xiàng)

（1）測(cè)量時(shí)，應(yīng)按儀器使用說(shuō)明書進(jìn)行校準(zhǔn)和操作。

（2）對(duì)每種磁性測(cè)厚儀，基體金屬都要求有一個(gè)臨界厚度。若基體金屬厚度小于臨界厚度，測(cè)量時(shí)應(yīng)該用與試樣材質(zhì)相同的材料墊在試樣下面使得讀數(shù)與基體金屬厚度無(wú)關(guān)。

（2）一般不應(yīng)該在彎曲面上和靠近邊緣或內(nèi)角處測(cè)量。若要求在這種位置測(cè)量時(shí)，應(yīng)該進(jìn)行特別校準(zhǔn)，并引入校正系數(shù)。

（4）采用雙極式探頭的儀器時(shí)，基體金屬的機(jī)械加工方向（像軋制方向等）對(duì)測(cè)量結(jié)果有影響。因此，在測(cè)量時(shí)，應(yīng)使探頭的取向與校準(zhǔn)時(shí)的取向一致，或?qū)⑻筋^在相互成 90°角的兩個(gè)方向上進(jìn)行兩次測(cè)量。

（5）在粗糙的表面上進(jìn)行測(cè)量時(shí)，應(yīng)該在不同點(diǎn)上進(jìn)行多次測(cè)量，取其平均值作為

鍍層的平均厚度，或者在相同表面狀態(tài)的未鍍覆基體金屬表面上進(jìn)行校準(zhǔn)。

（6）測(cè)量時(shí)，探頭要垂直放在試樣表面上。對(duì)于磁力型儀器，因受地球重力場(chǎng)的影響，故用于水平方向或倒置方向測(cè)量時(shí)，應(yīng)該在這種方向上進(jìn)行校準(zhǔn)。

（7）使用磁力型儀器測(cè)量鉛和鋁合金鍍層厚度時(shí)，磁體探頭能被鍍層粘附。遇此情況，可在鍍層表面涂上一層薄的油膜，以改善重現(xiàn)性，但這不能用于其他鍍層測(cè)量。

（8）含磷量 #$以上的化學(xué)鍍覆的磷 % 鎳合金層是非磁性鍍層，但經(jīng)熱處理后便產(chǎn)生磁性。因此應(yīng)在熱處理前測(cè)量厚度。若要在熱處理后測(cè)量，則儀器應(yīng)在經(jīng)過(guò)熱處理的標(biāo)準(zhǔn)樣品上進(jìn)行校準(zhǔn)。

（9）鍍層厚度小于5μm 時(shí)，應(yīng)進(jìn)行多次測(cè)量，然后用統(tǒng)計(jì)方法求出其厚度。